諧振腔品質因數是描述磁控管特性的重要參數，本文分別采用線路法和場解法對W 波段空間諧波磁控管π/2模品質因數進行計算，并與CST仿真結果進行了對比，驗證了兩種方法的正確性，這為W 波段空間諧波磁控管π/2模品質因數的計算提供了理論依據。

　　在諧振腔中三個量最能表現諧振腔的基本特性：固有頻率，高頻損耗和品質因數。品質因數是諧振腔的重要參數，它表征微波諧振腔儲能能力或者頻率選擇的能力大小。而目前很少有文獻專門對磁控管品質因數進行相應的計算，因此本文嘗試推導計算π/2模空間諧波磁控管品質因數的方法。

1、品質因數的計算

　　磁控管諧振腔內部場的計算，通常有兩種方法：線路法和場解法。基于此，本文利用線路法和場解法對磁控管諧振腔品質因數進行求解。

　　1.1、線路法

　　線路法中，磁控管等效電路如圖1所示，由于磁控管為周期性慢波結構系統，其中任一腔體特性都相同，因此，只需計算某一個諧振腔的基本特性即可(如圖2)。而諧振腔的品質因數可以表示為：

　　式中，ω為磁控管諧振頻率，L為諧振腔集總電感，R為等效長線的有效電阻，因此，本文首先對這三個值進行計算。

圖1　磁控管等效電路圖

3、結論

　　本文利用線路法和場解法對W 波段空間諧波磁控管π/2模品質因數進行計算，并與CST仿真結果進行比較，得出三個計算結果基本吻合，驗證了線路法和場解法的正確性。但由于線路法集總電感的近似處理帶來較大計算誤差，因此，本文認為場解法計算品質因數更為準確。