真空規(guī)比對標準裝置期間核查方法

2009-05-29 趙光平 蘭州物理研究所真空低溫技術與物理國家級重點實驗室

        真空規(guī)比對標準裝置是采用動態(tài)或靜態(tài)直接比對法校準真空計,是一臺操作方便、使用效率高的真空標準裝置。對真空規(guī)比對標準裝置采用比對法進行期間核查。

        比對法有2 種情況,一種是2 臺設備技術指標相同,另一種是2 臺設備技術指標不相同,其中技術指標低的為被核查設備。

1、技術指標相同

        2 臺技術指標相同的測量標準進行比對,比對結果差值為y-y0,應滿足式(3)

2、技術指標不同

        2臺技術指標不同的測量標準進行比對,比對結果差值為y-y0,應滿足式(4)

        式中U0 為技術指標高的測量標準的擴展不確定度;uc0 為技術指標高的測量標準的合成標準不確定度

        選用靜態(tài)膨脹法真空標準裝置對真空規(guī)比對標準裝置進行期間核查,這2 臺標準技術指標不相同,其中真空規(guī)比對標準裝置的技術指標低。

        分別用靜態(tài)膨脹法真空標準裝置和真空規(guī)比對標準裝置對同一臺美國MKS 公司生產的1.33 kPa 電容薄膜真空計校準,校準數據見表4、表5。

表4 靜態(tài)膨脹法真空標準裝置校準數據

 靜態(tài)膨脹法真空標準裝置校準數據

表5 真空規(guī)比對標準裝置校準數據

 真空規(guī)比對標準裝置校準數據

        表4 中,用靜態(tài)膨脹法真空標準裝置校準電容薄膜真空計的平均修正因子為1.003;表5 中,用真空規(guī)比對標準裝置校準的修正因子為0.998。根據式(4)計算得到二者的偏差為0.8%。

        靜態(tài)膨脹法真空標準裝置的擴展不確定度U 為0.8%,真空規(guī)比對標準裝置的擴展不確定度為3.4%,根據式(4)計算得

真空規(guī)比對標準裝置的擴展不確定度

        二者的偏差為0.8%,小于3.5%,則真空規(guī)比對標準裝置技術狀態(tài)正常。

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